扫描探针显微术编辑

分辨率在纳米量级的测量固体样品表面实空间形貌的分析方法

扫描探针显微术

扫描探针显微术是2019年公布的冶金学名词。中文名称扫描探针显微术英文名称scanning probe microscopy，SPM定　　义分辨率在纳米量级的测量固体样品表面实空间形貌的分析方法。根据测量的相互作用类型，可分为扫描隧道显微术、原子力显微术、磁力显微术等。应用学科材料科学技术（一级学科），材料科学技术基础（二级学科），材料科学基础（三级学科），材料的表征与测试（四级学科）以上内容由全国科学技术名词审定委员会审定公布

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